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手動探針臺用途：

探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。

半導(dǎo)體實驗室

手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析，抽查測試等用途。

手動探針臺應(yīng)用領(lǐng)域：

Failure analysis 集成電路失效分析

Wafer leve reliability晶元可靠性認(rèn)證

Device characterization 元器件特性量測

Process modeling塑性過程測試(材料特性分析)

IC Process monitoring 制成監(jiān)控

Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試

Flat paneprobing 液晶面板的特性測試

PC board probing PC主板的電性測試

ESD&TDR testing ESD和TDR測試

Microwave probing 微波量測(高頻)

Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析

LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析

手動探針臺的使用方式：

1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。

2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。

3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。

4.顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰，帶測點在顯微鏡視場中心。

5.待測點位置確認(rèn)好后，再調(diào)節(jié)探針座的位置，將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊，再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕，慢慢將探針移至被測點，此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針，zui后則使用X軸旋鈕左右滑動，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。

6.確保針尖和被測點接觸良好后，則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試。常見故障的排除 當(dāng)您使用本儀器時，可能會碰到一些問題，下表列舉了常見的故障及解決方法。