適用于:晶圓廠、研究所、高校等對(duì)IGBT、FRD、高壓大電流測(cè)試、太陽(yáng)能電池測(cè)試、二極管晶體管測(cè)試、背電極測(cè)試等。
樣品吸盤(pán)可四自由度移動(dòng)，方便掃描和對(duì)焦，隔振底座設(shè)計(jì)，利于精細(xì)測(cè)量。
HGPS200 探針臺(tái)：
平面度高:精磨鐵磁不銹鋼臺(tái)面
結(jié)構(gòu)緊湊:整體設(shè)計(jì)
測(cè)試直觀:三目體式顯微鏡
測(cè)試靈活:吸盤(pán)氣孔獨(dú)立控制
HGPT-PS200多功能隔振磁吸工作臺(tái)：
底座可單獨(dú)采購(gòu)使用
方便自由搭建
各類(lèi)探針測(cè)量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)或其他實(shí)驗(yàn)平臺(tái)系統(tǒng)
手動(dòng)精密隔振探針臺(tái)采用隔振支架設(shè)計(jì)底座實(shí)現(xiàn)精細(xì)測(cè)量
使用隔離支架時(shí)，1微米探針針尖無(wú)抖動(dòng)，清晰可見(jiàn)，普通剛性支架明顯有抖動(dòng)。
